【问题】 半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。·供桥电源的变化。·半导体几何尺寸的变化;·半导体电阻率的变化;·贴片位置的温度变化;

半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。·供桥电源的变化。·半导体几何尺寸的变化;·半导体电阻率的变化;·贴片位置的温度变化;

正确答案:单选题·半导体电阻率的变化;

题目解析:本题出自佳木斯大学,佳木斯大学语言治疗学,由丰阳塔题库搜集整理。